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      • 德國菲希爾X射線膜厚儀XDL230
        發布者:深圳市泰立儀器儀表有限公司  發布時間:2016-08-24 16:43:28  訪問次數:792

        FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230


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        X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

        X射線鍍層測厚儀簡介:
        FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
        XDL 230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
        典型的應用領域有:
        • 測量大規模生產的電鍍部件
        • 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
        • 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
        • 測量印刷線路板
        • 分析電鍍溶液
        XDL230有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。
        由于采用了FISCHER完全基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

        設計理念:
        FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅動的Z軸系統。
        高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。
        測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。
        帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的精確調整。
        所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
        XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器,型式許可完全符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。

        通用規格
        設計用途:能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
        元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,最多可同時測定24種元素
        設計理念:臺式儀器,測量門向上開啟
        測量方向:由上往下

        X射線源
        X射線管:帶鈹窗口的鎢管
        高壓:  三檔: 30 kV,40 kV,50 kV
        孔徑(準直器): Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm
        測量點尺寸:取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 最小的測量點大小約Ø 0.2mm

        X射線探測
        X射線接收器:測量距離
        比例接收器:0 ~ 80 mm,使用專利保護的DCM測量距離補償法

        樣品定位
        視頻系統:高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監控十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 可調節亮度的LED照明,激光光點用于精確定位樣品
        放大倍數:40x – 160x

        電氣參數
        電源要求:220 V ,50 Hz
        功率:最大 120 W (不包括計算機)
        保護等級:IP40

        尺寸規格
        外部尺寸:寬×深×高[mm]:570×760×650
        內部測量室尺寸:寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品最大高度”部分的說明)
        重量:107 kg

        環境要求
        使用時溫度:10°C – 40°C
        存儲或運輸時溫度:0°C – 50°C
        空氣相對濕度:≤ 95 %,無結露

        工作臺
        設計:手動X/Y平臺
        X/Y平臺最大移動范圍:95 x 150 mm
        可用樣品放置區域:420 x 450 mm
        Z軸:馬達驅動
        Z軸移動范圍:140 mm
        樣品最大重量:20kg
        樣品最大高度:140 mm
        激光(1級)定位點:有

        計算單元
        計算機:帶擴展卡的Windows®計算機系統
        軟件  標準: WinFTM® V.6 LIGHT

                 可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER


        執行標準

        CE合格標準:EN 61010
        型式許可:作為受完全保護的儀器 型式許可完全符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。

        訂貨號
        FISCHERSCOPE X-RAY XDL230:604-496

        如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDL型號。


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        深圳市泰立儀器儀表有限公司
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        深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年11月,是專業從事工業檢測儀器設備的代理、銷售及售后服務工作。并與國外著名檢測設備生產廠商有著廣泛的技術交流與銷售合作關系。作為德國霍釋特FOERSTER、加拿大Tessonics、德國索諾德NewSonic、德國德爾DUERR、美國達高特Dakota、英國聲納SONATEST、英國易德ETHER NDE、美國通用檢測科技GE、法國M2M、美國瓦里安Varian、美國Modashop、意大利寶石隆 Bosello、以色列 ScanMaster、美國Flir、日本SHIMPO新寶、日本KANOMAX加野麥克斯、臺灣Motive一諾等公司在中國的銷售代理商。主要銷售的儀器有:超聲波探傷儀、超聲波硬度計、超聲波測厚儀、球化率自動化檢測儀、電導率儀、磁導率儀、渦流探傷儀、涂層測厚儀、汽車超聲波點焊儀、工業射線機、工業CR/DR檢測系統、全自動超聲波水浸C掃描系統、風速計、粒子計數器、推拉力計、扭力計等測試儀器。
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