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| 產品參數 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | HMILU | ||
| 包裝 | 盒裝 | ||
| 零件狀態 | 在售 | ||
| 安裝類型 | 卡入式 | ||
| 特性 | 芯片老化測試 | ||
| 材料 | PEEK BeCu AL | ||
| 顏色分類 | 下單請確認最新價格 | ||
| 適用場景 | 老化，測試 | ||
| 產地 | 中國大陸 | ||
| 封裝方式 | QFN/CLCC | ||
| 引腳間距 | 0.5mm | ||
| 測試座類型 | 翻蓋式探針座 | ||
| 總尺寸 (含引腳) | 20x20x1mm | ||
| 引腳數 | 24個 | ||
| 數量 | 1 | ||
| 封裝 | CLCC | ||
| 批號 | 以出貨為準 | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 用途 | EEPROM老化測試 | ||
| 型號 | CLCC24翻蓋探針多工位測試座 | ||
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