一、卡套球閥,也叫卡套式球閥,雙卡套球閥,單卡套球閥,卡套異徑球閥,卡環式球閥,卡圈式球閥,QG.Y1卡套球閥,卡套變徑球閥。產品廣泛應用于水處理設備、化工設備、石化設備、石油設備、造紙設備、采礦設備、電力設備配套、液化氣設備、食品設備、制藥設備、給排水設備、機械設備閥門、電子工業閥門,城建閥門、工業管道閥門、通用零部件、工業設備、消防暖通、過濾設備、環保設備等領域。
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低功率的設備更適合使用低功率的電源。,電流一旦超過20mA就會損壞LED陣列樣品。此時需要電源能夠通過CV/CC跳變或OCP來限制電流,從而保護設備。CV/CC跳變可將電流保持在限定范圍內,防止出現過流情況。消除了過流情況,電源就會回到正常的工作狀態。圖1是把電流限制在20mA以下的一個簡單示例。圖1:表征CC極限值小于20mA的小型LED陣列的電壓和電流OCP是一種閉鎖功能。一旦電流超過20mA,輸出就會設為0伏并保持在零位。
二、用途
球閥適用于中、小口徑管路的各種壓力、溫度和介質下控制接通或截斷管路介質的啟閉裝置;靠介質壓力將球體壓緊在出口端閥座上,其使用壓力和通徑受到一定限制.采用90°傳動,故開關方便迅速,可以實行快速啟閉.
三、操作原理和結構說明:
1、球閥通道平整光滑便于管道掃線清洗,可以輸送漿液及固體顆粒等介質.
2、采用PTFE(特氟隆)等材料作為密封,具有良好潤滑性和彈性,與球體摩擦系小,使用壽命長.
3、啟閉迅速,啟閉時只需把球體轉動90°,方便而迅速.
4.球閥的流體阻力小,全開時球體通道、閥體通道和連接管道的截面積相等,并且成直線想通,介質流過球閥,相當于流過一段直通的管子,在各類閥門中球閥的流體阻力.
四、產品特點
1. 用于流路的開通-截斷
2. 球閥無調節能力,如果系統需要實現流量調節,必須串聯調節閥來完成
3. 二通球閥的工作壓力可達20.6MPa
4. 二通球閥的標準形式是水平閥,也可選用角式閥
5. 使用介質為氧氣時,需采用脫脂處理
6. 可面板安裝

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一般的測定方法有以下幾種:紅外光度法:試樣中的碳、硫經過富氧條件下的高溫加熱,氧化為二氧化碳、氣體。該氣體經處理后進入相應的吸收池,對相應的紅外輻射進行吸收,由探測器轉發為信號,經計算機處理輸出結果。此方法具有準確、快速、靈敏度高的特點,高低碳硫含量均使用,采用此方法的紅外碳硫分析儀,自動化程度較高,價格也比較高,適用于分析精度要求較高的場合。容量法:常用的有測碳為氣體容量法和非水滴定法,測硫為碘量法、酸堿滴定法。

五、球閥的優點:
1)流體阻力小,其阻力系數與同長度的管段相等。
2. 結構簡單、體積小、重量輕。
3. 緊密可靠,目前球閥的密封面材料廣泛使用塑料、密封性好,在真空系統中也已廣泛使用。
4. 操作方便,開閉迅速,從全開到全關只要旋轉90°,便于遠距離的控制。
5. 維修方便,球閥結構簡單,密封圈一般都是活動的,拆卸更換都比較方便。
6.在全開或全閉時,球體和閥座的密封面與介質隔離,介質通過時,不會引起閥門密封面的侵蝕。
7. 適用范圍廣,通徑從小到幾毫米,大到幾米,從高真空至高壓力都可應用。
六、球閥已應用
廣泛應用于石油、化工、發電、造紙、原子能、、等各部門,以及人們日常生活中。
七、注意事項
●在卡套球閥關閉狀態下,閥體內部依舊存在受壓流體。
●維修卡套球閥前,解除管線壓力并使閥門處于打開位置。
●維修前,斷開電源或氣源。
●維修前,將執行機構與支架脫離。
●必須先查明卡套球閥上、下游管道確已卸除壓力后,才能進行拆卸分解操作
●分解及再裝配時必須小心防止損傷零件的密封面,特別是非金屬零件,取出O型圈時宜使用專用工具
●球閥裝配時法蘭上的螺栓必須對稱、逐步、均勻地擰緊。
●清洗劑應與球閥中的橡膠件、塑料件、金屬件及工作介質(例如燃氣)等均相容。工作介質為燃氣時,可用汽油清洗金屬零件。非金屬零件用純凈水或酒精清洗
●分解下來的單個零件可以用浸洗方式清洗。尚留有未分解下來的非金屬件的金屬件可采用干凈的細潔的浸漬有清洗劑的綢布(為避免纖維脫落粘附在零件上)擦洗。清洗時須去除一切粘附在壁面上的油脂、污垢、積膠、灰塵等
●非金屬零件清洗后應立即從清洗劑中取出,不得長時間浸泡
●清洗后需待被洗壁面清洗劑揮發后(可用未浸清洗劑的綢布擦)進行裝配,但不得長時間擱置,否則會生銹、被灰塵污染
●新零件在裝配前也需清洗干凈
●使用潤滑脂潤滑。潤滑脂應與球閥金屬材料、橡膠件、塑料件及工作介質均相容。工作介質為燃氣時,可用例如特221 潤滑脂。在密封件安裝槽的表面上涂一薄層潤滑脂,在橡膠密封件上涂一薄層潤滑脂,閥桿的密封面及摩擦面上涂一薄層潤滑脂
●裝配時應不允許有金屬碎屑、纖維、油脂(規定使用的除外)灰塵及其它雜質、異物等污染、粘附或停留在零件表面上或進入內腔
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X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的,BX系列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性,已足以保證待測樣品分析測量的精度,被分析樣品的制樣技術成為影響分析準確度的至關重要的因素,在樣品制備方面所花的工夫將會反映在分析結果的質量上。X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾個方面:1.采樣誤差:非均質材料樣品的代表性2.樣品的制備:制樣技術的穩定性產生均勻樣品的技術3.不適當的標樣:待測樣品是否在標樣的組成范圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩定性4.儀器誤差:計數的統計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5.不適當的定量數學模型:不正確的算法元素間的干擾效應未經校正顆粒效應純物質的熒光強度隨顆粒的減小而增大,在多元素體系中,已經證明一些元素的強度與吸收和增應有關,這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。